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高壓加速老化試驗箱,pct高壓加速老化試驗機,高加速壽命試驗-正航儀器設(shè)備
高壓加速老化試驗箱
    PCT老化試驗機用途:   試驗箱磁性材料檢測的新寵,用磁性材料改進的存儲器稱為磁電隨機存取存儲器(M eRAM)。它極有可能被用來制造未來的存儲芯片,這樣的芯片既可以用在幾乎所有的電子應(yīng)用,包括智能手機、平板電腦、計算機及微處理器中,也可以用于數(shù)據(jù)儲存,例如計算機和大型數(shù)據(jù)中心使用的固態(tài)硬盤中。 ...
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    高壓加速老化試驗箱使用的環(huán)境要求: ▲、地面平整,通風(fēng)良好,不含易燃、易爆、腐蝕性氣體和粉塵。  ▲、附近沒有強電磁輻射源! ▲、設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)木S護空間。  ▲、溫度:5℃~30℃(24小時內(nèi)的平均溫度≤30℃)! ▲、相對濕度:≤85%RH(夏季使用要開啟空調(diào))   ▲、氣壓:86~106kpa。 ...
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    產(chǎn)品名稱:PCT高壓加速老化試驗 我司在PCT高壓加速老化試驗箱內(nèi)膽,為了能夠更加好的符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn),,帶有復(fù)合可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象,能夠避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果的PCT高壓加速老化試驗箱內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計,從而避免配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制專用產(chǎn)品架。 ...
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     高壓加速老化試驗箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。 ...
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